自動膜厚測量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號： F50

所屬分類：測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-10

簡要描述：日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。

聯(lián)系我們在線咨詢

詳細(xì)說明：

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

主要特點

結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體	抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。
平板	單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、各種光學(xué)膜等。
薄膜太陽能電池	CdTe、CIGS、非晶硅等
引	砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等

測量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點的功能。

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：F3-CS臺式膜厚測量系統(tǒng)

下一篇：F60對準(zhǔn)自動膜厚測量系統(tǒng)

欧美日韩中文字幕2o19,国产三级电影精品麻豆,欧美大片在线免费看精品一区,免费看中文字幕一级高清

自動膜厚測量系統(tǒng)

主要特點

主要應(yīng)用

測量示例

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補充說明：

驗證碼：