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絕緣層上的金屬薄膜電阻式厚度檢測技術(shù)

發(fā)布時間:2022-04-26 點擊量:673

絕緣層上的金屬薄膜電阻式厚度檢測技術(shù)

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電阻膜厚儀RST-231的特點

在 0.7 秒內(nèi)測量絕緣層上的金屬薄膜


它可以在短時間內(nèi)(0.7秒)以高精度測量絕緣層(印刷電路板的銅箔、鍍層等)上的金屬膜。

易于閱讀的屏幕配置

使用個人計算機時,屏幕大、明亮且易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量。可以選擇兩種測量范圍(2 至 24 μm、10 至 120 μm)。

各種數(shù)字立即可見

直方圖、配置文件和 xR 圖表在統(tǒng)計處理后總是立即可用。

異常值檢測功能

如果您設置了薄膜厚度的上限和下限,您將收到異常值的通知。

簡單的統(tǒng)計處理

可以為每個通道保存測量數(shù)據(jù),以后可以為測量數(shù)據(jù)設置統(tǒng)計項目進行統(tǒng)計處理。

最多可注冊 40 個頻道

由于您最多可以注冊 40 個頻道,因此您可以通過根據(jù)用戶名或部件號單獨注冊來管理頻道。

電解膜厚度計RST-231介紹實例

山形縣O公司

印刷線路板、
電子設備、電子元件

神奈川縣T公司

照明/電氣設備零件,NC / NF

韓國
 

電阻式膜厚儀RST-231規(guī)格

模型(主體)RST-231型
測量原理4探針電阻式
測量范圍2~24μm、10~120μm 
通道數(shù)40 個頻道
數(shù)據(jù)容量100,000 條數(shù)據(jù)
展示視電腦顯示器屏幕而定
統(tǒng)計處理最大值、最小值、平均值、標準偏差、直方圖、上下限設置
電源供應AC100 ~ 240V, 50 / 60Hz 10VA (主機)
尺寸280 (W) x 230 (D) x 88 (H) 毫米(主體)
配件4探頭測頭KD-110
標準板TCU-145
 搜索間隔探頭頂端
KD-1101毫米0.1R * 標準品
KD-1051毫米0.05R
KD-1201毫米0.2R
KD-2102mm0.1R
KD-2202mm0.2R



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